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實(shí)驗(yàn)室中的同步加速器性能 使用蔡司Xradia 800 Ultra X射線(xiàn)顯微鏡,可實(shí)現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率,是基于實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)成像系統(tǒng)中*高的。 隨著非破壞性3D成像在
實(shí)驗(yàn)室中的同步加速器性能
使用蔡司Xradia 800 Ultra X射線(xiàn)顯微鏡,可實(shí)現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率,是基于實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)成像系統(tǒng)中*高的。 隨著非破壞性3D成像在當(dāng)今的突破性研究中發(fā)揮至關(guān)重要的作用,您將在基于實(shí)驗(yàn)室的超高分辨率系統(tǒng)中體驗(yàn)的性能。 創(chuàng)新的Xradia Ultra架構(gòu)采用吸收和相位對(duì)比成像模式以及8 keV的X射線(xiàn)能量,采用同步加速器改造的獨(dú)特光學(xué)元件。 使用Xradia 800 Ultra,期望獲得的原位和4D功能,用于研究材料隨時(shí)間的演變,并擴(kuò)展材料科學(xué),生命科學(xué),自然資源和各種工業(yè)應(yīng)用中使用的X射線(xiàn)成像的極限。
亮點(diǎn)
Xradia 800 Ultra的分辨率高達(dá)50 nm,可讓您深入了解以前無(wú)法通過(guò)傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室X射線(xiàn)技術(shù)獲得的微觀結(jié)構(gòu)和工藝。 使用8 keV X射線(xiàn)進(jìn)行操作可為各種材料提供出色的穿透力和對(duì)比度,使您能夠觀察其自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料。
蔡司Xradia 800 Ultra提供可靠的內(nèi)部3D信息,否則只能通過(guò)橫截面等破壞性方法訪(fǎng)問(wèn)。 大工作距離和大氣樣本環(huán)境使您可以輕松地進(jìn)行原位研究。
優(yōu)勢(shì)